测试目的:旨在检测产品在一定跨距下,受一定压力测试,经过N次测试后,壳体及结构件(盖板玻璃、液晶模组、PCB、软包电池、电子零部件、后盖板等)是否功能正常或产生形变。压力、循环次数根据手机厚度、结构件材质决定。如下例产品受20kgf压力,保持5秒,循环测试10000次。 |
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测试目的:旨在模拟产品置入衣服口袋、裤袋受到外力挤压的情形。通常业内两种测试方法:a),硅胶+牛仔布一定压力下挤压手机,两个方向(长边、短边)分别挤压,硅胶硬度为邵氏硬度50度(接近人体硬度)。 硬质材料(如硬质优力胶、硬质塑胶等)一定压力下、多个部位挤压手机。受一定压力测试,经过N次测试后,壳体及结构件(盖板玻璃、液晶模组、PCB、软包电池、电子零部件、后盖板等)是否功能正常或产生形变。如下图直径100mm优力胶,50kgf压在产品上,保持5秒,循环10000次。 |
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测试目的:旨在检测产品在一定扭力下,经过N次测试后,壳体及结构件(盖板玻璃、液晶模组、PCB、软包电池、电子零部件、后盖板等)是否功能正常或产生形变。扭力、角度、循环次数根据手机厚度、结构件材质决定。长边、短边分别测试,全程记录产品扭曲的【扭力-角度】曲线、数据。如下图产品定1.5N.m循环50000次测试。 |
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测试目的:旨在检测产品各个部位(一般小尺寸产品5个点,如iPhone,大尺寸产品9个点,如iPad)受一定压力、一定时间挤压,经过N次测试后,壳体及结构件(盖板玻璃、液晶模组、PCB、软包电池、电子零部件、后盖板等)是否功能正常或产生形变、花屏、玻璃开裂等不良状况。全程记录【力值-位移】或【力值-时间】曲线、数据。 |
测试目的:旨在检测产品各种连接件(如USB、耳机、电源线等部件)经过N次测试后,性能是否正常,插入、拔出力是否符合衰减范围要求。全程记录插入、拔出时的【力值-位移】曲线、数据,寿命衰减曲线用于分析。 |
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测试目的:旨在模拟产品意外落摔情形。通常业内两种测试方法:a),产品在一定高度下被释放,产品成自由落体运动撞击各种材质(钢板、大理石、木板)的跌落板上,检视、评估其受损情形。b),产品以选定的部位准确地撞击跌落板上,一般为两个大面、四个窄面、四条边、三个角(应选择认为结构设计较为薄弱部位跌落)。b方法要求选中之撞击部位能精准地撞击跌落板,跌落过程中产品不得发生翻转或与跌落板夹角(夹角误差应≤2°)发生改变,可由高速摄影机全程跟踪拍摄、验证。产品经多个不同高度、不同部位、不同跌落板撞击后,检视、评估其耐跌落能力。 |
测试目的:旨在模拟产品在一定高度下(通常业内为1000mm或500mm)任意翻滚撞击金属面(3mm SUS304),以评估产品各位部位而撞击能力。经过N次翻滚跌落测试后,评估产品性能,如是否能正常开机、是否能正常通话等、触摸屏是否开裂、脱胶、金属边、后盖板喷涂层是否划伤。 |
测试目的:旨在模拟用户使用手机将手机轻摔在桌面上的情形,手机经过一定高度(通常60~300mm)、一定次数(通常大于5000次测试)、各个部位(通常测试二个大面、四个窄面,有的甚至需要测试角)撞击不同材质跌落板(木板、金属板、大理石板)后,评估手机壳体结构件能力和经一定应力测试后的内部零部件的抗摔能力。 |
测试目的:旨在检测电容式触摸屏划线精度、点击精度、抖动性、灵敏度、信噪比、响应时间、响应高度、分离合拢距离等性能。触摸屏的性能高低直接影响到用户体验,如误触摸、触摸响应不灵敏、写字误识别、触摸拖延等不良状况。业内通常在TP设计时已对电容屏各种触摸性能进行了测试,手机组装成成品后,还要进行整机触摸性能检测。测试系统通过I2C或WIFI将测试数据导入系统进行统计、分析、存档。 |