手机可靠性测试之微跌落测试
微跌落测试测试目的：验证样品重复跌落的可靠性及不同信道、不同功率等级下的射频参数；
测试条件：跌落高度：8cm（50-150mm或25-300mm可选）；跌落次数：1.14 万次（1-999999次可设定）；跌落频率：20次/min（5-20次/min） ；跌落面：厚铝板/PVC 板；
测试数量：2pcs；
测试设备：手机桌面重复跌落（微跌）试验机；
测试前检查项目：手机进行参数、全面外观和功能检测及不同信道、不同功率等级下的射频参数；
测试方法
a. 将样机设置为开机状态，插入测试卡，进行8cm 重复跌落11400 次，5000次跌正面，5000 次跌背面，500次左侧面，500次右侧，200次顶部，200次底部，每跌完一面对样品进行功能、结构和外观的检查；
b. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用射频线与CMU/CMD 连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试
c. 跌落频率：20 次/min；跌落高度：8cm；跌落面：厚的PVC 板；
检验标准
a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；
b. 结构检查：装饰件，logo及cover等无脱落，壳体卡钩无脱出，断裂；LCD无破裂；天线无脱出，脱落；转轴无松动，错位，脱出或断裂；滑盖无松动，脱出，断裂；晃动无异响，Lens无破裂，脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；正反面跌落2000次中不允许出现电池盖脱落；
c. 外观检查：壳体表面无明显掉漆，无裂纹，破损以及无其它与测试前状态不一致的；
d. 所有样机内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；
e. RF 参数符合规格要求；
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此项测试可选设备：手机桌面重复跌落（微跌）试验机RS-DP-04 产品介绍： 手机桌面重复跌落（微跌）试验机RS-DP-04适用于手机、电话听筒、对讲机、MP3、CD、电子词典消费类电子产品作重复跌落（桌面微跌）测试，以评估手机等产品结构及经过N次微跌后，是否功能正常。 点击进入产品页面<<< |
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