手机可靠性测试之温度冲击测试
温度冲击测试
温度冲击测试温度冲击测试
测试目的：验证样机高低温冲击下的材料性能，结构配合，装配、制成工艺等可靠性及传导的射频性能;
测试条件：低温-40℃±2℃/1h，高温+80℃±2℃/1h；转换时<=5min;12cycles ;
测试数量：8pcs；
测试设备：温度冲击试验箱；
测试方法:
a. 存入5个电话，5条短信息，设置手机时钟为当前日期时间；手机里存放MP3，MPEG4;
b. 一半手机带满电电池，不插卡，设置为关机状态；一半手机不放电池，放入低温箱内；手机间的距离大于等于10cm;
c. 样机置于-40℃低温箱内持续1小时后，在5min内迅速移入+80℃高温箱并持续1小时后，再在5min内迅速回到低温箱。此为一个循环（一个循环用时2小时），共循环12次；
d. 试验结束后将样机从高温箱中取出，在常温下放置1~2小时，然后进行外观、结构、功能检查；
e. 所有检查完成后，使用稳压电源给待测手机供电，用延长射频线与CMU200/CMD55连接并进行通话，在电压设置为3.8V的情况下进行RF参数测试；
检验标准：手机外观，结构，功能无异常；RF参数符合要求；
a. 功能检查：拨打电话，显示，铃声，振动，按键，扬声器，受话器，回音，指示灯，拍照，充电，蓝牙，MINI SD卡以及其它未描述到的功能正常；
b. 结构检查：结构无异常。与测试前状态不一致的现象；
c. 外观检查：样机外观无异常。表面喷涂、丝印、电镀无气泡、褶皱、裂纹、起皮、脱落以及其它与测试前状态不一致的现象；
d. 样品内存，时钟无异常（内存无丢失；时钟无混乱，复位，超前，滞后等）；
e. RF 参数符合要求；
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此项测试设备为：可程式冷热冲击试验机（三槽式）CTS系列 产品介绍： 冷热冲击试验机是用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经过极高温及低温的连续下所能忍受的程度，着以在最短时间内试验其因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。待测试完全静止测试方式是当前电子部品测试试用、研究用、以及半导体生产线大量筛选用，可大量节省耗材测试费用。操作快捷、高信赖。适用于金属、塑胶、橡胶、电子、航天等材料测试。 测试标准： GB/T2423.1-2001 试验A：低温试验方法； GB/T2423.2-2001 试验B：高温试验方法； GB/T2423.22-2002 试验N：温度变化试验方法； GJB/150.3-1986 高温试验方法 点击进入产品页面<<< |
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